矿用产品企业新闻
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手持式回损仪/回损测量仪 型号:DP-3308
产品概述
DP-3308手持式回损仪设计用于测量各种光器件、光链路的反射衰耗，控制光纤接头质量，在光纤安装和系统运行的过程中，可测试光回损质量，是应用于现场的优化解决方案。可分别用做光回损测试仪、光功率计、光源，并具有数据存储功能。
技术指标
光回损测试
测试波长（nm） 1310/1550
谱宽（nm） <5
显示范围（dB） 6~70
精度（dB） ±0.5
分辨率（dB） 0.01
光功率计
波长范围（nm） 850 ～ 1650
校准波长（nm） 850、1300、1310 、1490、 1550 、 1625
检测器类型 InGaAs
显示模式 dBm 、dB 、W
显示范围（dBm） －70 ～＋6
大输入功率（dBm） ＋6
分辨率（dB） 0.01
精度（dB） 0.3
光源
波长（nm） 1310/1550
谱宽（nm） <5
大输出功率（dBm） -3
稳定度（dB，30min） ± 0.05
调制频率（HZ） CW, 270, 1K, 2K |
