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薄膜测试仪/功能薄膜性测试仪
产品名称:薄膜测试仪/功能薄膜性测试仪
产品型号:DP-DHFC-1
品牌:亚欧
产品数量:
产品单价:面议
日期:2024-09-11
薄膜测试仪/功能薄膜性测试仪的详细资料
 【简单介绍】
仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能的测试。

【详细说明】

薄膜测试仪/功能薄膜性测试仪  型号:DP-DHFC-1

仪器由四探针测试仪和薄膜电导率测量仪两部分组成。具有测量精度、灵敏度、稳定性好、测量范围宽、结构紧凑、使用方便等点。仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能的测试。
    四探针测试仪由主机、测试架等部分组成。可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率,测量扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)、功能材料暗电导和光电导及温度的变化的性,还可以对金属导体的低、中值电阻行测量。测试探头采用宝石导向轴套和耐磨碳化钨探针制成,故定位准确、游移率小、寿命长。
    薄膜电导率测量仪由样品室、温控系统、真空系统、阻测量系统等部分组成。
◆ 测量范围:电阻测量范围:1×106~1×1017Ω;
     电阻率:0.001~200Ωcm;
     电导率:0.005~1000s/cm;
◆ 可测晶片直径: 200mmX200mm;
◆ 探针:碳化钨或速钢;探针间距:1±0.01mm;
◆ 针间缘电阻:≥1000MΩ; 
机械游移率:≤0.3%;
◆ 本底真空度:≤10Pa,气压可控范围:10~400Pa;
◆ 衬底加热 温度:室温~200℃。

2.

其它
 
商品名称:多元素快速分析仪/硅酸盐化学成份快速测定仪
商品型号:DP-DHF82

多元素快速分析仪/硅酸盐化学成份快速测定仪    型号:DP-DHF82

DP-DHF系列多元素快速分析仪是以光度分析原理为基础研制而成的分析仪,采用了的线性扩展及提灵敏度的方法,解决了传统光度分析组份含量偏离线性,分析低组份含量灵敏度差的问题.实现了大范围、地快速分析。在硅酸盐系统域具有显著,别适应于陶瓷、耐火材料、水泥、玻璃、地质、非金属矿产等行业。该产品在大院校、科研院所、厂矿企业得到广泛应用,并已打入市场。
多元素快速分析仪/硅酸盐化学成份快速测定仪  主要技术参数
1、 测量范围
1-1、 测量元素及范围
SiO2 0.2-99%    Al2O3 0.2-99%      Fe2O3 0.1-99%   TiO2 0.1-99%
K2O   0.1-15%       Na2O 0.1-15%     CaO  0.1-99%   MgO 0.1-99%
B2O3  0.1-30%      ZrO2     0.1-99%        Li2O  0.1-15%      SnO    0.1-99% 
PbO    0.1-99%      ZnO       0.1-99%       MnO      0.1-15%      Cr2O3 0.1-15% 
BaO   0.1-10%       NiO       0.1-15%       CoO       0.1-10%      P2O5  0.1-30%
1-2、 对下列化工原料主成份行快速分析
铬盐产品、V2O5产品、 MnO 产品、NiO产品、钛bai粉、磷酸盐、氧化钴、氧化锌、硼酸、硼砂、水玻璃、腐植酸钠。
1-3、 低含量组份的分析
可将Fe2O3 、TiO2、K2O、Na2O、CaO、MgO、P2O5、MnO、Cr2O3等元素的检测下限扩展到0.02%,分析精度优于0.02%。
2、 分析精度:对各元素的分析精度达到或优于相关标准分析方法中规定的允许误差。
3、 分析速度:自称量开始2-3小时成SiO2  Al2O3、Fe2O3、TiO2、K2O、Na2O、CaO、MgO的全分析。
4、 样通道: 3个
5、 连续测量样品数: 10个
 设备成套性
1. DP-DHF82型主机 壹台 2. 数据处理系统 壹套
3. 火焰光度计  壹套 4. 银坩埚    贰套
5. 声波清洗器 壹台
 仪器工作条件
1、电源 220V 50HZ 2、整机功率 1KW
3、整机重量 100Kg 4、安装面积 3500×850mm工作台
5、环境温度 5~30℃ 6、相对湿度 小于85%

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