双波段发射率测试仪/远红外线测试仪/发射率测试仪/发射率检测仪 型号：DP-IR-2
双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，而测出其在定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对殊需要的用户，通过用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。
仪器点：
1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位微机控温仪（能显示到1mk），使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且大地提了仪器在测量时的可靠性和稳定性。
2．采用了的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。
3．在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射（MR）探测通道外，还增设了门的漫反射（DR）补偿通道，从而确保了仪器的测量精度。
4．在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测，步提了仪器性能。
5．本仪器操作简单、使用方便、测量快速。
6．可按需更换滤光片，在多个红外光谱波段内行测试。
7．在测量过程中不损伤被测样品。
8．本仪器带RS-232串口及复位键RST。
主要技术指标
1．测量波段：3～5um、8～14um、1～22um
（若用户有殊要求，可定制不同波段滤光片）
2．发射率测量范围：0.1～0.99
3．灵敏度NE△ε：0.001
4．示值误差：±0.02 （ε>0.50）
5．重复性：±0.01
6．样品温度：常温（殊用户为常温～300℃）
7．样品尺寸：>Ф50
8．测量时间：3秒后按测量键E，即显示ε测量值。
9．显示方法：LED数字显示，末位0.001
10.电 源： 交流220V 50HZ
2.
其它
商品名称：陶瓷砖平整度、直角度、边直度综合测定仪
商品型号：DP-ZCY
陶瓷砖平整度、直角度、边直度综合测定仪 型号：DP-ZCY
、陶瓷砖平整度、直角度、边直度综合测定仪 概述
该仪器适用于测定各种墙面砖、地面砖尺寸及形状性之仪器，其所测参数包括面砖的边直度、直角度、平整度（中心弯曲度、边弯曲度、翘曲度）等几项指标。本产品符合：GB/T3810.2-2006，idt ISO 10545-2-1995《陶瓷砖－尺寸和表面质量的检验》的要求。
二、陶瓷砖平整度、直角度、边直度综合测定仪 主要技术参数
1、测量精度:±0.1mm
2、测量范围：60×60～600×600 ，60×60～800×800，60×60～1000×1000mm用户自选；
3、标准板客户选购（选购件）
4、根据用户要求可选用数显表。（选购件）
三、陶瓷砖平整度、直角度、边直度综合测定仪 原理及结构
本仪器由支承平板、可移动的左支座和右支座组成个直角坐标系。在平板上有三个等支承销与陶瓷面砖类似外形和具有理想尺寸的标准板行探测，并将仪表值调整至适当位置，并记下该示值。然后，以被测陶瓷面砖取代标准板，在不移动测量点的情况下，分别测出六项指标参数。左、右支座及中心测量支座可在平板上作平行移动，组成不同位置的空间座标，以适应不同规格尺寸陶瓷面砖的测定。
矿用产品
