可行无卤素（氯Cl、溴Br、碘I）测量它采用低功率小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单元，再加上我公司门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，保证了整台仪器的分辨率及通用适应性。
ROHS及无卤素检测仪 ROHS及无卤素测试仪 型号：DP-x-5600
产品详情：
DP-X-5600是种体现X射线荧光分析技术新展的能量色散X射线荧光光谱仪。可行无卤素（氯Cl、溴Br、碘I）测量它采用低功率小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单元，再加上我公司门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，保证了整台仪器的分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方，正是它大有作为之处。下面将该仪器的资料作简单介绍。
整机技术规格：
激发源：本机采用低功率 X 射线管（Ag靶），zui电压可达50KV，zui大电流1mA
压电源：zui大50W，50KV，1mA
探测器：电制冷 Si PIN半导体探测器（55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线，分辨率优于149eV）
多道分析器：2048道
软件：基于WINDOWS的强大工作软件。定量分析包括：经验系数法，理论a系数法和基本参数法。定性分析包括： KL线标记，谱图和光标寻峰等。客户可行二次开发，自行开发任意多个分析方法。
6电源：交流220V 50Hz
7体积：520mm x 600mm x 270mm
8重量：约 42kg （主机）
整机技术性能：
测量元素范围宽：从铝（13）至铀（92）都可测量
可测量含量范围，从ppm至
测量速度快，通常为几十秒到几分钟
多元素同时定性定量
蜂位漂移：八小时小于1%
口探测器的性能指标：
探测器类型：电制冷Si-PIN
探测面积：2.4x2.8mm（6mm2）
硅活化区厚度：500um
探测器分辨率： 对于55Fe，@5.9keV 对于12us的形成时间，半宽为149Ev
探测器窗口：铍窗，12.5um厚
口压电源规格：
电压和电流从零至满量程连续可调，zui大50KV，1mA
电压调整率：负载调整率：从空载到满载，电压变化为满量程的 0.01 %
线性调整率：对于规定的输入电压范围，该数值为满量程的0.01%
电流调整率：负载调整率：从空载到满载，电流变化为满量程0.01%
线性调整率：对于规定的输入电流范围，该数值为满量程的0.01%
稳定性：经过半小时预热后，每8小时变化不0.05%
温度系数：温度变化度，电压变化不过0.01%
详细参数：
测量范围：Pb，Hg，Cr，Cd，Br，Cl
测量精度：低于100ppm时度15ppm，大于100ppm时，度15%
分析元素：Pb，Hg，Cr，Cd，Br，Cl
检出限：Pb：3.2 mg/kg （ppm）
Hg：3.2 mg/kg （ppm）
Cr：4.1 mg/kg （ppm）
Cd：5.8 mg/kg （ppm）
Br：3.1 mg/kg （ppm）
Cl：2.4 mg/kg （ppm）
测量时间：30秒——120秒可选
X射线源：X光管
工作环境温度：10℃——45℃
工作环境湿度：20%——80%
压器：50Kv
操作系统：windows XP
2.
其它
商品名称：温导热系数测试仪/温导热系数测定仪/温导热系数检测仪
商品型号：DPDRS-III
温导热系数测试仪/温导热系数测定仪/温导热系数检测仪 型号：DPDRS-III
、温导热系数测试仪 概述
本仪器是从我厂DPDRS-2水流量平板法导热系数测试仪基础上发展而成的保温材料温导热系数测试仪器。与DPDRS-2，提了分辩率和自动化程度，缩短了测试时间，维护更容易，仪器性能更可靠。本仪器采用防护热流计法检测保温材料温下的导热系数，适用于耐火保温、陶瓷纤维、毡、纺织物、板、砖等材料在不同温度下导热系数的测试。广泛应用在大中院校，科研单位，质检部门和生产厂的材料分析检测。
二.温导热系数测试仪主要技术参数：
1、导热系数测试范围：0.010～2w/mk
2、导热系数测试精度：优于5％
3、试样尺寸：230×230～250×250（mm）；厚度20～100（mm）
4、热面zui温度：1200℃，冷面采用恒温水槽控制。
5、可实现多层试样同时测试；
6、电源：电压220V；频率50Hz；功率≤4KW；
7、连接计算机自动控制、数据处理，生成检测报告并可打印输出。
矿用产品
