数字式四探针测试仪/四探针测试仪/数字式四探针检测仪 型号：DP-SZT-2000
DP-SZT-2000型数字式四探针测试仪是根据四探针测试原理研究成功的多用途的综合测量装置，它可以测量棒状、块状
半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻行测量，可以从10-6--105Ω—cm全量程范围检测硅的片状、棒状材料的电阻、薄层电阻，是硅材料质量监测的必需仪器。
仪器为台式结构，分为电气箱、测试架两大部分，用户可以根据测试需要安放在般工作台或者用工作台上，测试架由探头及压力传动机构、样品架组成，耐磨和使用寿命长的点。探头内设有弹簧压力装置，压力从0—2Kg连续可调，测试架设有手动和电动两种装置供用户选购。
仪器电气箱主要由灵敏的直流数字电压表和稳定的恒流源组成，测量结果由数字直接显示，仪器有自校量程，可以方便地对仪器的电气性能行校验。
仪器具有测量精度、灵敏度、稳定性好、测量范围广、结构紧凑、使用方便等点，仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科学研究部门、等院校，对半导体材料的电阻性能测试及工艺检测。
仪器主要技术指标：
1． 范围：电阻率10-4—103Ω—cm，可扩展至105Ω—cm，分辩率为10-6Ω—cm
方块电阻10-3—103Ω /□
电阻10-6—105Ω
2． 可测半导体尺寸：直径Φ15—150mm
3． 测量方式：轴向、断面均可（手动测试架）
4． 数字电压表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V
（2）测量误差 0.2mV档±（0.3%读数+8字）
2 mV档以上±（0.3%读数+2字）
（3）输入阻抗0.2mV、2mV挡105Ω
20mV档以上>108Ω
（4）显示3 1/2位数字显示，0—1999
具有性和过载自动显示，小数点、单位自动显示
5． 恒流源：（1）电流输出：直流电流0—100mA连续可调，由交流电源供给
（2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五档
（3）电流误差：±（0.3%读数+2字）
6．四探针测试探头 （1）探头间距：1mm （2）探针机械游率：±0.3%
（3） 探针：Φ0.5mm （4）压力：可调
7. 测试架：
（1）手动测试架：探头上升及下降由手动操作，可以用作轴向和断面的单晶棒和硅片测试。
（2）电动测试架：探头的上升和下降由电动操作，设有自动控制器控制，探头上升时间1S—99S可调，探头下降时间1S—99S可调，压力恒定可调（由砝码来设定）同时设有脚踏控制装置由脚踏开关控制探头上下运动。
8.电流：220V±10% 50HZ或60HZ：功率消耗<35W
9． 外形尺寸：电气箱130×110×400mm
2.
其它
商品名称：漆膜干燥时间测定仪/漆膜干燥时间测试仪/漆膜干燥时间检测仪
商品型号：DP-QT－I
漆膜干燥时间测定仪/漆膜干燥时间测试仪/漆膜干燥时间检测仪 型号：DP-QT－I
漆膜干燥时间测定仪说明：
DP-QT－I 漆膜干燥时间测定仪是根据外同类产品原理，并自行开发研制而成的。选用单片微机控制步电机，带动球面触点的划杆，在12g的载荷下通过六档速度（0.5h/r,1h/r, 2h/r, 6h/r, 12h/r, 24h/r）,划出条直径80mm的圆周轨迹，根据轨迹消失的位置，用干燥时间图表覆盖后得出漆膜干燥时间。
漆膜干燥时间测定仪主要技术参数：
1． 划杆驱动电机： 36BF02B步电机
2． 划杆球面： φ8mm
3． 划杆旋转周速度：0.5h/r, 1h/r, 2h/r, 6h/r, 12h/r, 24h/r
4． 划杆载荷质量： 12g
5． 电源电压： 交流220V50Hz
6． 外形尺寸： 140140156mm （长X宽X）
漆膜干燥时间测定仪适用范围：
漆膜干燥时间测定仪适用于测定油漆，涂料等表面涂层的干燥时间，以保证油漆，涂料的质量和涂层的表面质量。
使用方法与维护：
1． 试板要求平整，尺寸不小于140140mm
2 取下12g砝码，调节横杆后的螺栓，使带球面触点的划杆和调节螺栓，平衡后放上12g砝码。
3. 试板制膜根据工艺规定的漆膜厚度用制备器或其他制膜工具在试板中央制成100100mm的正方形漆膜后放在测定仪上，使测定仪划杆旋转位置置于漆膜中心。
4. 开机：（1）按下测定仪后面电源开关。（2）预选干燥时间按键再按确定键。（3）按下运行键，仪器开始运行。（4）如需修改所设定时间或在仪器运行过程中需要停机，则按下清除键。此时时间显示为“0”，仪器停止运行。重新预选时间后按确认键，再按运行键，仪器继续运行。（5）仪器使用毕后关闭电源，及时清洗划杆下端的球面。注意防潮，防震，妥善保管。（6）仪器售后（除人为因素）保修年。
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