四探针电阻率/方阻测试仪（以下简称电阻率测试仪）是用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量部份（简称：主机）、测试架及四探针头组成。
四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/方阻测试仪/方阻仪/四探针电阻率测定仪（自动测试台+带软件） 型号：DP-KDY-1
四探针电阻率/方阻测试仪（以下简称电阻率测试仪）是用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量部份（简称：主机）、测试架及四探针头组成。
本仪器的点是主机配置双数字表，在测量电阻率的同时，另块数字表（以分之几的精度）适时监测全程的电流变化，免除了测量电流/测量电阻率的转换，更及时掌控测量电流。主机还提供精度为0.05%的恒流源，使测量电流度稳定。本机配有恒流源开关，在测量某些箔层材料时，可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生，更好地保护箔膜。仪器配置了本公司的产品：“小游移四探针头”，探针游移率在0.1～0.2%。保证了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机如加配HQ-710E数据处理器，测量硅片时可自动行厚度、直径、探针间距的修正，并计算、打印出硅片电阻率、径向电阻率的zui大百分变化、平均百分变化、径向电阻率不均习庋。给测量带来很大方便。
2、主机技术能数
（1）测量范围：
可测电阻率：0.0001～19000Ω•cm
可测方块电阻：0.001～1900Ω•□
（2）恒流源：
输出电流：DC 0.001～100mA 五档连续可调
量程：0.001～0.01mA
0.01～0.10mA
0.10～1.0mA
1.0～10mA
10～100mA
恒流精度：各档均低于±0.05%
（3）直流数字电压表：
测量范围：0～199.99mV
灵敏度：10μV
基本误差：±（0.004%读数+0.01%满度）
输出电源：≥1000ΩM
（4）供电电源：
AC 220V±10% 50/60 Hz 功率：12W
（5）使用环境：
温度：23±2℃ 相对湿度：≤65%
无较强的电场干扰，无强光直接照射
（6）重量、体积：
主机重量：7.5kg
体积：365×380×160（单位：mm 长度×宽度×度）
备注：
等测量时（测电阻率），精度<3%
电气测量时（测电阻），精度在0.3%以内
备注：
仪器包括：主机台；测试架（包括台面）个；四探针头1个；软件
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商品名称：腻子动态抗开裂试验仪/腻子动态抗开裂检测仪
商品型号：DP-DKL
腻子动态抗开裂试验仪/腻子动态抗开裂检测仪 型号：DP-DKL
腻子动态抗开裂试验仪说明：
DP-DKL 腻子动态抗开裂试验仪通过使基材在规定区域逐步产生细微裂纹并控制裂纹缓慢发展，观察腻子层的开裂情况，判断腻子产品抵抗基材裂纹扩展的能力，检测结果以基材开裂而腻子层不开裂时的基材zui大裂纹宽度表示，单位为毫米（mm）。
该仪器适用于腻子动态抗开裂性能的检测，也可用于检测其他柔性或弹性材料的同类性能。
腻子动态抗开裂试验仪主要技术参数：
刀长15cm，是硬度钢制成
刃口夹角：30度
zui大升程：20mm
上升速率：3mm/min
刀移动量zui小值为0.01mm
订购信息：DP-DKL 腻子动态抗开裂试验仪
矿用产品
