四探针测试仪/四探针电阻率测试仪/四探针检测仪/单测四探针检测仪（接电脑，含自动测试台） 型号：DP-RTS-4（SDY-4替代）
DP-RTS-4型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美 A.S.T.M 标准而设计的，用于测试半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）的用仪器。
仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
仪器采用了新电子技术行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等点。
本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能测试。
DP-RTS-4型四探针软件测试系统是个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户程序，通过此测试程序辅助使用户简便地行各项测试及获得测试数据并对测试数据行统计分析。
测试程序控制四探针测试仪行测量并采集测试数据，把采集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看，还可以把采集到的数据输出到Excel中，让用户对数据行各种数据分析
技术参数：
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测量范围
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电阻率：0.001～200Ω.cm（可扩展）；
方块电阻：0.01～2000Ω/□（可扩展）；
电导率：0.005～1000 s/cm；
电阻：0.001～200Ω.cm；
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可测晶片直径
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140mmX150mm（配S-2A型测试台）；
200mmX200mm（配S-2B型测试台）；
400mmX500mm（配S-2C型测试台）； |
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恒流源
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电流量程分为0.1mA、1mA、10mA、100mA四档，各档电流连续可调 |
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数字电压表
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量程及表示形式：000.00～199.99mV；
分辨力：10μV；
输入阻抗：>1000MΩ；
精度：±0.1% ；
显示：四位半红色发光管数字显示；性、量程自动显示； |
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四探针探头基本指标
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间距：1±0.01mm；
针间缘电阻：≥1000MΩ；
机械游移率：≤0.3%；
探针：碳化钨或速钢Ф0.5mm；
探针压力：5～16 牛顿（总力）； |
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四探针探头应用参数
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（见探头附带的合格证） |
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模拟电阻测量相对误差
（ 按JJG508-87行）
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0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字 |
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整机测量zui大相对误差
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（用硅标样片：0.01-180Ω.cm测试）≤±5% |
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整机测量标准不确定度
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≤5% |
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计算机通讯接口
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并口 |
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标准使用环境
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温度：23±2℃；
相对湿度：≤65%；
无频干扰；
无强光直射； |
2.
射线/辐射检测仪
商品名称：多功能射线仪/多功能射线检测仪/多功能射线测试仪
商品型号：DP-2322
多功能射线仪/多功能射线检测仪/多功能射线测试仪 型号:DP-2322
多功能射线仪【详细说明】
多功能射线仪是小的手持式微处理器控制的灵敏度低水平能检测Χγαβ射线。直接读出射线水平。另外，有可调整的定时器和外部校准键。该剂量仪采用支盖革-弥勒计数管来测定αβγ及Χ射线辐射，数字显示，探头为内置式（INSPECTOR）。
检测器:
具有云母窗口的GM管，窗口有效直径45 mm
Inspector （只有内部GM管）
在前面板中心有射线标记标记
Inspector EXP（只有外部探头）
在仪器外部具有把手，有与 Inspector 相同的GM 管探头。
电源:节9V 碱性电池. 电池寿命 200小时
多功能射线仪技术指标：
剂量率： 0.001～100 mR/hr（毫伦/小时）或0.01～1000μSV/ hr（微希伏/小时）
计 数： 0～300000CPM（每分钟计数）或0～5000 CPS（每秒钟计数）
计数时间选择：为了测量低计量的α线和β射线 可选择1分-24小时，连续计数再除以计数时间变为CPM或CPS
精 度：<±15%
重 量：272g
体 积：150×80×30㎜
应用域：
探测和测定表面沾污
在操作放射性核素时监测可能存在的放射性暴露量
调查环境污染
测定惰性气体及其它低能放射性核素
建筑装饰材料放射测定
矿用产品
