半导体管性图示仪 型号：DP-BJ4814
DP-BJ4814型半导体管性图示仪是测量半导体器件直流及低频参数的用仪器,它通过示波管屏幕及标尺刻度,准确的反映器件的性曲线,其信息量之大是其它类型直流测试设备所达不到的,亦显示出图示仪的,因此它是半导体器件生产厂家及整机研制部门行半导体器件的研制,性能改善,电路设计,器件的合理应用等工作必不可少的理想测试设备。
本仪器功能齐全,测试范围宽, 大部分电路实现了集成化, 其中集电扫描电路实现了电子扫描,大电流测试状态行了占空比压缩,减小了成本,减小了重量.阶梯部分的大电流测试状态采用了脉冲阶梯输出,减小了被测管的发热. 集电电流测试新增了电子保护电路提了反映速度,增加了仪器自身及对外保护能力,部分功能参考美Tex-577产品点,还有部分功能是为方便测试而增设的,因此使本仪器的应用范围得到拓宽。 功 能 参 数 主要技术指标 X轴系统： A.工作方式: 分集电电压（Vc）, 基电压（Vb）, 二管电压（Vd）和阶梯信号四类. B.位移范围: 大于10度 C.集电电压偏转因数: 20mV/度 ～ 20V/度. 1-2-5序共10挡误差≤±3%
D.基电压偏转因数: 20mV/度 ～ 1V/度. 1-2-5序共6挡误差≤±3%
E.二管电压偏转因数: 100V/度 ～ 500V/度. 1-2-5序共3挡误差≤±3% F.阶梯信号偏转因数: 1阶/度误差≤±5%
Y轴系统
A.工作方式: 分集电流（Ic）, 和阶梯信号两类. B.位移范围: 大于10度 C.集电电流偏转因数: 1uA/度～ 2A/度. 1-2-5序共20挡误差≤±3% D.阶梯信号偏转因数: 1阶/度误差≤±5%阶梯信号源
A.工作方式: 分恒压源和恒流源两类 B:性: 正或负 C:阶梯电流源: 1mA ～ 200mA/阶 1-2-5序共17挡 误差≤±5% D:阶梯电压源: 20mV/度 ～ 1V/度 1-2-5序共6挡误差≤±5% （源内阻100Ω） E:/族: 1-10 连续步
集电扫描电源 A:额定电压范围及容量: 0 ～ 20V 20A 0 ～ 200V 0. 0 ～ 5000V 0.002A B.性: 正或负 c.方式: 0-20v 范围 （Y轴 0.001~5mA/度） 100Hz 0-20v范围 （Y轴 10~50mA/度 ） 500Hz 0-20v范围 （Y轴 0.1~0./度 ） 100Hz间歇（8mS）扫描 0-20v范围 （Y轴 1~2A/度） 50Hz间歇（18m）扫描
0-200v范围 （Y轴 0.001~5mA/度） 100Hz 0-200v范围 （Y轴 0.01~0.） 100Hz间歇（8mS）扫描 0-5000v范围 直流 2.2.5
显示系统
A.示波管型号: 13SJ38J
B.有效工作面: 75mm×75mm（标尺） C.分度: 1度（X）=7.5mm 1度（Y）=7.5mm 基本安全要求 A.缘要求: ≥ 2MΩ B.漏电流: ≤ 5mA（峰值C.介电强度电压试验: 电源线相对机壳应能承受1500V（50Hz交流有效值）1分钟试验, 不出现击穿和飞弧现象.
2.
其它
商品名称：颗粒图像分析仪/显微图像分析系统/显微图像仪
商品型号：LY-2006
颗粒图像分析仪/显微图像分析系统/显微图像仪 型号LY-2006
LY-2006型显微图像分析系统是我公司研制的种图像法颗粒分析仪器。它是传统的显微镜法与现代的图像处理技术相结合的产物。它的基本工作流程是通过数字摄象机抓拍颗粒在显微镜下的图像并传输到计算机中，通过业的颗粒图像分析软件对图像行处理与分析， 经显示器和打印机显示和输出分析结果。本仪器具有直观、准确、测试范围宽等点，不仅可以直接观察到颗粒形貌，还可以计算出每个颗粒粒径和圆形度以及粒度分布和圆形度分布，为科研、生产域增添了种新的粒度测试手段。
、LY-2006颗图像分析仪基本参数
- 测试范围：1-3000微米；
- 显微镜：中外合资光学显微镜（可选配其他种类显微镜，如口显微镜、金相显微镜等）；
- 数字摄像机：300像素；
- zui大光学放大倍数：1600倍；
- 系统总放大倍数：5000倍；
- zui大分辨率：0.1微米/像素；
- 重复性误差：<3%（不包含样品制备因素成的误差）。
二、数字摄像机基本参数
- 像素尺寸：3.2μm X 3.2μm；
- 传感器类型：逐行扫描CMOS；
- 输出颜色：bayer彩色；
- 数据位数：红绿蓝各10选8；
- 光学尺寸：1/2英寸；
- 镜头接口：CS,C；
- http://www.51658042.com
- 信噪比：43dB；
- 动态范围：60dB；
- 清晰度：>1000线；
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- 曝光方式：ERS；
- 同步方式：外触发或连续采集；
- 输出方式：USB2.0；
- 数据传输距离：数据传输距离5米（加中继可达25m）；
- 可编程控制：图像尺寸、亮度、增益、帧率、曝光时间；
- 供电要求：5V；
- 功耗：<2.25W；
- 外形尺寸（mm）：54.5x54.5x46.1（含接圈）、38x38x38.7（不含接圈）。
三、仪器组成与图像分析原理
- 仪器组成：
- LY-2006型显微图像分析系统包括粒度分析软件、数字摄像机、显微镜、电脑、打印机等组成部分。
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- 分析原理：
- 通过对颗粒数量和每个颗粒所包含的像素量的统计，计算出每个颗粒的等效面积圆和等球体积，从而得到颗粒的等效圆面积直径和等球体积直径以及圆形度等参数，再对所有的颗粒行分统计，从而得到粒度分布、圆形度分布等信息。
四、LY-2006颗粒图像分析仪软件功能
- 图像处理功能：
- 对图像行灰度转换，二值化，分割，删除，剪切，粘贴，缩放，填充等系列处理，得到颗粒清晰的黑白二值化图像。
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- 数据处理功能：
- 通过对图像行处理，测量软件自动统计出颗粒个数，然后计算每个颗粒所包含的像素数，得出颗粒的面积、等效直径、等效周长、实际周长、圆形度等参数。通过粒度分，得到用户需要的粒度分布表和分布图以及d10、d50、d90等典型参数，并可根据需要选择个数分布或体积分布。
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- 软件输出项目：
- 包括原始数据（样品信息和测试信息）；分析数据（粒度分布表/粒度分布图）；图形（频率分布直方图和累计分布曲线）；典型结果（中位径，平均径，圆形度等）。
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- 报告输出功能：
- 可以打印原始图像和多种测试报告，包括粒度报告，图像报告，圆形度报告以及粒度和典型图像的综合报告。
五、LY-2006颗粒图像分析仪适用域
- 研磨材料：白刚玉、金刚石、碳化硅、碳化硼、氧化铈等；
- 电池材料：石墨、钴酸锂等；
- 其他：可用来观察各种非金属粉、金属粉以及其他粉体。
网址：www.51298264.com
矿用产品
