介电常数及介质损耗测试仪 型号:DP-JDC
一、介电常数及介质损耗测试仪DP-JDC概述:
DP-JDC型介电常数及介质损耗测试仪作为阻抗测试仪器,测试频率上到160MHz。
二、介电常数及介质损耗测试仪DP-JDC主要技术:
Q 值测量范围:2 ~ 1023,量程分档:30、100﹑300﹑1000,自动换档或手动换档
固有误差:≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ),≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)
工作误差:≤ 7 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ),≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)
电感测量范围: 4.5nH ~ 140mH
电容直接测量范围: 1 ~ 200pF
主电容调节范围: 18 ~ 220pF
主电容调节准度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 %
信号源频率覆盖范围: 100kHz ~ 160MHz
频率分段( 虚拟 ): 100 ~ 999.999kHz, 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz,100 ~ 160MHz
频率指示误差: 3 × 10 -5 ± 1 个字
三、介电常数及介质损耗测试仪DP-JDC夹具工作
1.平板电容器:
片尺寸: Φ50mm/Φ38mm可选
片间距可调范围: ≥15mm
2. 夹具插头间距:25mm±0.01mm
3. 夹具损耗正切值:≤4×10-4 (1MHz)
4.测微杆分辨率: 0.001mm
四、DP-JDC配置:
主机 一台
电感 九支
夹具 一套
液体杯 一套
随机文件一套
室温电阻率测定仪/电阻率测定仪/炭块室温电阻率 型号:DP45
仪器征:本产品符合ISO11713 2000、YS/T63.2-2006标准要求。
●液晶触摸面板操作,微处理器作为控制中心,可记录测试时间、样品编号、4组探针的平均值、等参数,并以电子表格的形式存储在本地,可随时查询,也可通过网络上传上位机。
● 实验过程全部由程序控制,避免了人为因素对实验结果的干扰。
● 采用德口探针,4次伸缩无故障,四探针组个动作成全部数据测量,由液晶屏显示其平均值,方便、快捷。
● 采用口气动原件,终生免维护。
技术参数:
测量范围:0~100μΩm;
测量精度:±0.1μΩm;
接触压力:≥50N
电源:AC220V±22V 50Hz±1Hz;
功率:100W;
重复性:1.2μΩ·m
重现性:1.5μΩ·m
外形尺寸(长×宽×):800mm×480mm×550mm
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