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DP-600系列 光时域反射仪
产品名称:DP-600系列 光时域反射仪
产品型号:DP-600系列
品牌:亚欧
产品数量:
产品单价:面议
日期:2024-09-10
DP-600系列 光时域反射仪的详细资料

光时域反射仪  型号:DP-600系列

光时域反射仪 应用

DP-600系列光时域反射仪是测量光纤性的可靠仪器。该系列产品具有小巧、轻便、操作简单等点,采用符合人体工程学的外形设计和触摸LCD显示屏,并具有数据存储功能,这些数据可用PC软件行分析光纤传输质量和实现测量结果的后期处理、存档、打印。

安装和维护光缆的人员通过查看光纤测试图形中的“事件点”,指出光纤中的这些不规则处,定位其位置,测量它们之间的衰减,及其成的损耗以及衰减的均匀性。


 光时域反射仪 产品参数

技术规格1

波长(nm)

850/1300

1310/1550

1310/1490/1550

1625

动态范围(dB)2

21/19

32/30

38/36

40/38

32/30/30

344

365

脉冲宽度(ns)

5、20、40、80、160、320、640、1280

5、10、20、40、80、160、320、640、1280、2560、5120、10240、20480

事件盲区(m)3

≤1.8m

衰减盲区(m)3

≤10m

显示屏幕

5.6寸触摸屏,640*480

线性度(dB/dB)

±0.05 dB/ dB

损耗阈值(dB)

0.05

损耗分辨率(dB)

0.01

采样分辨率(m)

0.125至8

采样点

32K

距离不确定度(m)

±(1 m + 5×10-5×距离+取样间距)

距离范围(km)

0.3至180

典型实时刷新时长

0.2s

迹线存储容量

SD卡(4G),>10000条

测量时长

5秒、10秒、15秒、30秒、1分钟、2分钟、3分钟可选

般规格

 

接口类型

尺寸(H×W×D)

150×235×66mm

光接口

FC/UPC(PC、APC可选)

重量

1.5kg

数据接口

USB接口、SD卡接口

温度

运行温度 -10℃至50℃

 

存储温度-40℃至70℃

可视故障定位VFL

相对湿度

0%至95%(非冷凝)

波长

650nm

电源

锂电池;连续工作时间≥8小时

输出功率(dBm)

≥-3

保修期

12个月

测试远距离

3km

备注:1、技术规格描述了用典型PC型连接器行测量时仪器的保证性能。不考虑由于光纤折射率导致的不确定度。

2、动态范围是在大脉冲宽度、平均时间3分钟条件下测得的数据。动态范围是在180km/20480ns/3min条件下测得的数据。

3、盲区测量条件:反射事件在4Km以内,反射强度<-45dB,用小的脉宽行测量。

4、带滤波器下测得的动态范围。

5、不带滤波器下测得的动态范围。

 

 

 光时域反射仪 产品点

l  光纤测试应用,提供多波长选择:

单模:1310/1490/1550/1625nm(带滤波器),大40dB
多模:850/1300nm,18/22dB

l  全自动测量模式:只需选择测量的波长,剩下的工作都由DP-600来成,包括自动设置测量条件、执行测量、事件搜索以及数据自动保存。

l  实现对测量文件的自动命名、自动存储操作,简化了操作者的使用程序。

l  通过波长自动切换行测量的多波长测量模式:在参数设置中,可同时选择多个波长,点击测量后即可执行。在“多波长测量模式”下,可以查看同段光纤在不同波长下的衰减状态,以便更好地对测量光线行分析。

l  与参考波形行的迹线固定功能模式:用户可以利用该功能固定住条迹线,把另条实时的或平均化测量下的迹线同屏显示。这样生成的模版,对于多芯光纤的安装或在已安装的光纤网络中检查老化光纤非常有用。

l  提供多条迹线的“多波长分析”功能模式:在“多波长分析”模式中,可以实现任意迹线文件的对比显示分析功能。

l  DP-600短事件盲区可以对光缆安装过程中局端或客户端两个相邻很近的事件行测量。事件盲区可达1.5米。

l  理想的LAN/WAN/FTTx 认证和故障解决工具,可提供FTTx在线测试,并且可识别分路器和光纤末端。

l  人机界面,掌上型触摸屏设计,操作直观,使用简便,携带方便。

l  优化的供电设计:内置大容量锂充电电池,待机时长过8小时。

l  Bellcore文件格式(.sor),大于10000条迹线存储。

l  CE、FCC、IS09001 认证

l  通信光检测:可有效保护测试仪表和通信设备。

l  连接状态检测:及时了解连接头的连接状况,使操作者能在佳环境下行测量。

l  灵活的测量模式切换:可通过快捷按键操作实现实时测量模式和平均测量模式的切换。

 


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