显微颗粒图像粒度仪 型号:DP-TT180
显微颗粒图像粒度仪DP-TT180采用工业显微图像采集系统,使样品观测清。分析软件系统能够对样品的“单体数据”、“形态参数”、“整体分布”等参数行分析和计算,可以样品的整体分布规律的曲线图和颗粒形态描述等丰富数据,是对各类颗粒样品行观测和分析的仪器设备。由计算机分析出样品种等效粒径、X、Y切线等“单体属性”、以及包括长径比、球型度在内的“形态参数”。再通过步计算得出此样品的整体分布情况,软件中还增加了多幅图像拼接计算的模式,成倍增加了参与分析的颗粒数量,后可将样品的数据以报告的形式输出(包含有图像范例、图表、数据列表等),便于测试人员对测试结果行管理和汇报。
显微颗粒图像粒度仪 技术参数及详细配置
技术参数:
|
硬件参数
|
|
显微系统
|
物镜
|
4X、10X、40X、60X、100X(油)长距消色差(平场)物镜组
|
|
目镜
|
1X、10X、16X 大视野摄像目镜
|
|
载物台
|
手动三维机械式载物台,尺寸:185mm×140mm,移动范围:50mm×75mm,粗微同轴调焦,微动格值:2μm,带锁紧和限位装置
|
|
光源
|
底部透射光源,6V 20W卤素灯,亮度可调。可选部金相落射式光源(带起偏振器)
|
|
总放大倍数
|
4倍——1600倍
|
|
|
辅助光源
|
卤素光源
|
|
粒径分析范围
|
1μm~2000μm
|
|
摄像系统
|
分辨率
|
2048×1536
|
|
像素尺寸
|
3.2μm×3.2μm
|
|
成像元件
|
1/1.8英寸 progress scan CMOS
|
|