数字式太阳能级硅晶体少子寿命测试仪 型号：DP09301

数字式太阳能级硅晶体少子寿命测试仪 点：

可测量太阳能级多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光，直接对切割面或研磨面进行测量，仪器可按需方提供的有标称值的校准样品调试寿命值。

数字式太阳能级硅晶体少子寿命测试仪 参数

1少子寿命测试范围：0.5μs~6000μs

2样品的电阻率范围：ρ﹥0.1Ω·cm（非回炉料）

3测试速度：1分钟/片

4 红外光源波长： 0.904～0.905μm

5 高频振荡源：用石英谐振器，振荡频率：30MHZ

6 前置放大器，放大倍数约25，频宽2HZ-2MHZ

7可测单晶尺寸：断面竖测：

直径25mm-150mm；厚度2mm-500mm

纵向卧测：直径5mm-20mm；长度50mm-200mm

8测量方式：采用数字示波器直接读数方式

9测试分辨率：数字存储示波器分辨率0.01μs

10 设备重量：20 Kg

11 仪器电源：电源电压类型：单相210～230V,50Hz,带电源隔离、滤波、稳压，不能与未做保护措施的大功率、高频设备共用电源。