固体介质折射率测定仪型号；DP10020
采用的实验方法。可用于基础物理实验，

固体介质折射率测定仪优点：
  1.采用铝合金材料制成，表面经阳极氧化处理

  2.带有刻度的转盘。
  3.采用数字式光功率计测量偏振光光强。
  4.有黑色遮光罩挡光，可在明光及通风条件下做光学实验，在同一实验室各组实验互不干扰。
  应用本仪器可以完成以下实验：
  1. 光的偏振现象的观察和分析，加深对光偏振规律的认识。掌握获得线偏振光的知识及确定偏振片偏振方向的方法。
  2. 用布儒斯特定律，测量对可见光透明固体材料的折射率。
  3．通过测量偏振光二个分量入射到介质上反射光的反射系数，测量半导体硅等材料的折射率。
  固体介质折射率测定仪技术参数：
  1. 半导体激光器 波长650nm，功率 1.5-2.0mW，工作电压3V。
  2. 转盘 直径为2.0cm，可调范围0-360°，分度值1°。
  3．水平光学转台 可 0-360゜转动，分度值 1°。
  4．数字式光功率计 量程有200uW和2mW二档，三位半液晶显示